工業(yè)測量顯微鏡的用途非常廣泛，實(shí)用價(jià)值也是非常高的，那么工業(yè)測量顯微鏡有幾種測量方法，大家有聽說嗎？

一種:軸切方法。

軸切法是一種測量方法，它利用中心顯微鏡的標(biāo)記來瞄準(zhǔn)和定位穿過測量片的軸以及測量刀上的劃線。測量刀是萬工顯的附屬品。表面有刻線，刻線到刃口的尺寸分別為0.3 mm和0.9 mm，測量時(shí)，將測量刀放在測量刀的底板上，刻線面穿過被測件的軸線，使測量刀的刃口與被測面緊密接觸。對準(zhǔn)對應(yīng)的米線，測量兩把量刀刻線之間的距離，即可間接測量被測件的測量值。為了避免測量中的計(jì)算，在中間豎米線兩側(cè)刻兩組四條對稱分布的平行線。每組線與中心線的距離分別為0.9毫米和2.7毫米，正好是測量刀刀刃與線的距離的三倍。這樣，用3x物鏡瞄準(zhǔn)時(shí)，刻線板上的0.9和2.7 mm刻線正好壓在量刀上的0.3和0.9 mm刻線，然后量刀上的刀刃正好被米線的中間刻線瞄準(zhǔn)。主要用于測量螺紋的中徑。

兩種:影像方法。

圖像法是一種利用中心顯微鏡的標(biāo)記來瞄準(zhǔn)和定位圖像的測量方法。測量時(shí)，通常將刻線對準(zhǔn)試件圖像的邊緣，在讀數(shù)顯微鏡上讀取數(shù)值，然后移動(dòng)工作臺(tái)對準(zhǔn)刻線相同的試件圖像的另一側(cè)，再進(jìn)行二次讀數(shù)。兩個(gè)讀數(shù)之差即為被測零件的測量值。

三種、接觸方法。

接觸法是利用中央顯微鏡的標(biāo)記將與通用顯示附件-光學(xué)尋孔器的探頭相連的雙刻線對準(zhǔn)定位的測量方法，該雙刻線靠近試件測量點(diǎn)的、線的、面。測量時(shí)，將光學(xué)尋孔器的探針靠在零件表面(內(nèi)側(cè)、外側(cè))。測量孔徑時(shí)，首先測量頭與測量件內(nèi)孔接觸，獲得弦長后，用光學(xué)孔測量裝置的雙套線將米字線的中間劃線套在中間，在讀數(shù)顯微鏡中讀取數(shù)字；然后改變測量方向，使測量頭接觸另一側(cè)的測量片，使斜分劃板的中間劃線仍被光學(xué)尋孔器的雙套導(dǎo)線套在中間，在讀數(shù)顯微鏡上讀出另一個(gè)數(shù)字。兩個(gè)讀數(shù)之差，加上探頭直徑的實(shí)際值，就是試件的內(nèi)部尺寸；如果減去探針直徑的實(shí)際值，它就是試樣的外部尺寸。

以上就是工業(yè)測量顯微鏡的三中測量方法，大家看懂了嗎？如果有這方面的意向，可以與我們進(jìn)行溝通合作洽談的！